製品紹介
低荷重高速一軸延伸試験装置（Model: ES-101）
特徴小型且つ高感度ロードセルの搭載により延伸過程中に僅かの荷重変化を検出できる。
高速一軸延伸機構により高分子フィルムの高速延伸試験及び衝撃延伸試験に応用可能
仕様
検出荷重 ： 0～10Kgf 分解能：0.001 Kgf
延伸速度 ： 1～1000 mm/sec
延伸倍率 ： 10 --> 430 ｍｍ （43倍）
試験片幅 ： 10 ～ 30 mm
延伸モード： 延伸、弛緩、緩和
用途
高分子フィルム、機能性材料の機械的な特性の延伸試験
低荷重サンプルの延伸試験
高分子材料の高速延伸、高速衝突試験など
一軸延伸複屈折位相差測定装置（Model: RS-1）
特徴恒温槽付き高速一軸延伸ユニットと光弾性変調法の複屈折位相差測定ユニットの組み合わせにより延伸過程中に延伸応力と複屈折位相差の変化挙動を同時に測定可能です。
一軸延伸プロセス中に応力と複屈折位相差を同時に測定した結果から力学と光学の両方面から一軸延伸プロセスの評価は可能です。
力学データと光学データをリアルタイム（20μsec）に測定可能なことから高速延伸挙動の追随もできる。
さらに恒温水槽の搭載により、含水延伸評価及び含水延伸中の応力と複屈折位相差の計測も可能になりました。
主な仕様
複屈折位相差： 光弾性変調法の連続測定
測定時間 ： リアルタイム（msec）
延伸距離 ： 15 --> 375mm （25倍）
延伸測定 ： 延伸、弛緩、緩和、多段延伸など
延伸速度 ： １～200mm/sec（標準）
温度範囲 ： ①恒温槽 ：常温～200℃（標準）
②含水延伸：常温～85℃（オプション）
用途（In-situ測定試験）
光学フィルム材料・機能性高分子材料などの延伸過程中の評価試験
光学材料、機能性材料など光弾性係数測定
新素材開発、素材の延伸性、強度試験など引っ張り延伸試験など
二軸延伸複屈折位相差測定装置（Model: RS-2）
特徴光弾性変調法（PEM）により、延伸過程中に複屈折位相差(Ret.)と配向軸(Axis)を同時に測定可能になる。
本装置は多数の異なる温度条件、様々な延伸条件で二軸延伸プロセス及び二軸延伸性の評価できる特徴を有する。
光学的（複屈折・配向軸）と力学的（応力・温度）データを同時に測定する事により、延伸中に力学的と光学的の測定データの両方面から延伸性を評価する。
主な仕様
複屈折位相差： 光弾性変調法の連続測定
測定時間 ： リアルタイム
延伸距離 ： 58 --> 325mm （5.6倍）
延伸測定 ： 延伸、弛緩、緩和、多段延伸など
延伸速度 ： １～200mm/sec（標準）
恒温槽数 ： 単槽式、二槽式、三槽式
温度範囲 ： ①標準仕様 ：常温～200℃
②高温仕様 ：常温～350℃
③含水仕様 ：常温～85℃
用途（In-situ測定試験）
光学フィルム材料・機能性高分子材料などの延伸過程中の評価試験
光学材料、機能性材料など光弾性係数測定
新素材開発、新素材の延伸性評価、強度試験など
複屈折位相差・配向軸測定装置（Model: Re-3i）
特徴光弾性変調法（PEM法）の採用により、高分解能と高い繰り返し測定精度の他に、測定時間も早い（20μsec/点）。
高い繰り返し測定精度の性能面から、厳密且つ正確に複屈折位相差値（Retardation）及び配向軸値（S.Axis）の測定管理に応用できる。
多波長機能、試料傾斜台の追加搭載により、試料波長分散特性及び三次元屈折率（nx、ny、nz）、試料厚み方向の複屈折位相差（Rth）も一つの装置で測定可能です。
主な仕様
測定波長：590nm （他波長も可）
測定範囲：複屈折位相差 0～120nm 精度：±1％以下
配向軸（遅/進） ±90° 精度：±0.02°以下
用途
光学フィルム、光学ガラスなどの複屈折位相差・配向軸測定及び延伸フィルムの特性評価
高精度複屈折位相差測定装置（Re-5）
特徴複数の光弾性変調素子（PEM）の搭載により、高分解能且つ高い繰り返し性の測定精度で連続測定（リアルタイム）が可能になる。
高速XYスキャンステージの搭載で大型光学ガラス、光学フィルム、延伸フィルムなどの面内複屈折位相差・配向軸分布を短時間に測定できる。
リアルタイムに測定可能なことから光学フィルムの生産工程中に複屈折位相差値（Retardation）及び配向軸（S.Axis）の測定にも適する（In-Situ測定可能）。
主な仕様
測定波長：632.8nm
測定範囲：複屈折位相差 0～130nm 精度：±1％以下
配向軸（遅/進） ±90° 精度：±0.02°以下
用途
光学フィルム、光学ガラスなどの複屈折位相差・配向軸の面内分布測定
生産工程中の複屈折位相差・配向軸値の管理などインライン測定設置も可能